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NPR-2500F  Negative Photoresist  耐酸負光阻

 使用特性:
1. 屬液態負光阻,塗布時密著性優良,膠膜機械強度佳,耐高溫與強酸。
2. 在酸性蝕刻液中,抗蝕性良好 (15-20% HF蝕刻液;etch 0.3 mm glass in 1 hr)。
3. 運用範圍:玻璃板 or 晶片背面腐蝕加工;晶片封裝凸塊加工 (Flip Chip)等。
4. 可以水溶液DS-10顯影與剝膜;有機溶液S-100剝膜 (不會腐蝕鋁等金屬層)。

 塗佈方式:旋轉等塗佈【單層塗布厚度20 um – 800 rpm、60 sec;耐強酸可多層塗布增加膠膜厚→100um)。

 乾燥方式:適當軟烤溫度 (Soft BakeTemp.):65-85℃;時間:15-30分鐘。

 曝光量:250-400 mj/cm2依基片反光度而定。

 曝光後靜置:溫度:室溫;時間:5-15分鐘。

 顯影方式:
顯影液DS-10(1:1) (不會腐蝕鋁等金屬層);室溫;
顯影時間:90-300秒;需DI Water Rinse Cycles。

 剝膜方式:
1. DS-10 or S-10剝膜液 (溶液不會腐蝕鋁等金屬層)。
2. 剝膜時間:90-300秒,需DI Water Rinse Cycles。
※ 請注意:S-100含有機溶劑,不適合應用於含有藍膜 (PVC膜) 的製程 ※

 相關物理化學性質: